Catálogo
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Montamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pintura de plata conductiva Electrodag 1415 con pincel
Pintura conductiva de plata para aplicaciones en microscopía electrónica y circuitos electrónicos.
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Cestas de evaporación con recubrimiento de alúmina
Cestas de tungsteno recubiertas de alúmina para evaporación térmica en vacío. Funcionan con fuentes de baja potencia y permiten evaporar múltiples materiales.
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Bulk Specimen Holder – sujeta-muestras irregulares ⌀32 mm
Montamuestras diseñado para sujetar de manera segura fragmentos grandes o de formas irregulares o incómodas para su análisis en el microscopio electrónico de barrido (SEM).
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Discos conductivos de carbono formato rollo – Ø12.5mm x 250
Tabs adhesivos de carbono conductivo de Ø12.5mm en formato rollo para SEM (250 uds por rollo). Alta transparencia para EDS y baja presencia de níquel y cobre.
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Oblea de silicio Ø4″ cortada en chips de 5 x 5 mm, 270 chips/oblea
Obleas / waffers de silicio de 4″ (10 cm) de diámetro, cortadas en dados de 5 x 5 mm, proporcionando 270 chips o dados por oblea. Aplicaciones como sustrato en micrsocopía avanzada (AFM y SEM).
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Planotec P47 – Disco de centelleo Ø8.8 x 2 mm sin recubrir
Proporciona una alta señal de salida y una excelente vida útil en SEM. Compatible con JEOL JSM T20, T200, T300, 35CF, 800 series
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OsO₄ tetroxido de osmio 4% acuoso, ampollas 10 x 2 ml
Osmium Tetroxide (Tetraóxido de Osmio) al 2% en solución acuosa se utiliza habitualmente en microscopía electrónica como fijador para preservar la estructura celular de la muestra.
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Monta muestras Pin Stub con número de serie grabado – ⌀12,5 mm
Porta muestras serializados para SEM (paquete de 50 unidades grabadas con máximo 8 dígitos) – ⌀12,5 mm.
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Quantifoil® película Holey Carbon Film – Rejillas TEM ortogonales
Rejillas TEM con película de carbono perforada patentada por Quantifoil®, ideales para visualización precisa y automatización en microscopía electrónica. Disponibles en múltiples geometrías y materiales.
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Filamentos de tungsteno Cambridge, LEO, Zeiss y AEI (caja de 10)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Cambridge, LEO, Zeiss y AEI, caja de 10 unidades.
