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Lacey Carbon grids on copper – rejillas TEM carbono / cobre
Grillas recubiertas por un film o lámina de carbono Lacey en cobre de diferentes mallas, ideales para estudios de nanotubos, cristales aciculares y especímenes biológicos o materiales.
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Leit C Cement – Conductive Carbon Cement 30ml
cemento conductivo utilizado principalmente para el montaje de muestras en microscopía electrónica de barrido (SEM).
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Minibach D-9 dispersor homogeneizador para muestras 0,1 a 20.000 ml
Potente, de altísima velocidad, manejable y compacto. Agitador de alto rendimiento diseñado para aplicaciones de laboratorio que requieren mezcla homogénea de muestras. Ideal para entornos de investigación científica y análisis químico.
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Monta muestras Pin Stub con número de serie grabado – ⌀12,5 mm
Porta muestras serializados para SEM (paquete de 50 unidades grabadas con máximo 8 dígitos) – ⌀12,5 mm.
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Montamuestras – Pin stubs Hitachi Ø25mm M4 (pack de 50 uds)
Compatibles con instrumentación Hitachi. Aluminio. Diámetro de 25mm y altura de 6mm.
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P20 – Cojinete para herramientas de dispersión MICCRA
Cojinete de repuesto fabricado en PTFE para herramientas de dispersión MICCRA. Compatible con sistemas de homogeneización de alta velocidad, garantiza un funcionamiento suave y sin fricción. -
Pasta conductiva AGAR Leit C Plast – cantidad 15 gr
Material adhesivo conductivo similar a la plastilina, utilizado para montar muestras más grandes en soportes de microscopía electrónica de barrido (SEM)
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Montamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pintura de plata conductiva Electrodag 1415 con pincel
Pintura conductiva de plata para aplicaciones en microscopía electrónica y circuitos electrónicos.
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Rejillas TEM de la gama Athene made by Agar Scientific en UK
La gama Athene (Athene TEM grids) son rejillas de muy de alta calidad para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas y comercializadas por Agar Scientific (Inglaterra).
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S300 ION Sputtering para recubrir muestras hasta Ø304.8 mm – FESEM
Sistema de pulverización iónica de alto vacío con tecnología magnetrón (dual target), ideal para recubrimientos conductores en muestras para microscopía electrónica de barrido de alta resolución (FESEM). Compatible con obleas semiconductores de hasta 12 pulgadas (≈ Ø305 mm).
