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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Rejillas TEM con película de soporte Formvar – Carbon o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids
Rejillas TEM más gruesas y rígidas que las tradicionales, facilitando su manipulación sin riesgo de doblarse. Disponibles en varios estilos y materiales, son ideales para diversas aplicaciones en microscopía electrónica. Vienen marcadas en el centro y dispone de una pestaña para sujetarlas con la pinza.
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Rejillas TEM de la gama Athene made by Agar Scientific en UK
La gama Athene (Athene TEM grids) son rejillas de muy de alta calidad para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas y comercializadas por Agar Scientific (Inglaterra).
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Rollo cinta conductiva Poly-carbonate Conductive Tape PELCO
Cinta adhesiva conductiva de doble cara con base de policarbonato y adhesivo acrílico cargado con carbono. Ideal para montaje de muestras en microscopía electrónica. Disponible en varios anchos y formatos.
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S300 ION Sputtering para recubrir muestras hasta Ø304.8 mm – FESEM
Sistema de pulverización iónica de alto vacío con tecnología magnetrón (dual target), ideal para recubrimientos conductores en muestras para microscopía electrónica de barrido de alta resolución (FESEM). Compatible con obleas semiconductores de hasta 12 pulgadas (≈ Ø305 mm). -
Set pinzas laboratorio PELCO® Pro High Precision con estuche
Este set incluye las siguientes pinzas. 00, 2A, 3C, 5 y 7
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Silver Conductive Epoxy, H20E Epo-Tek®, 28.35G (1 Oz.)
Epoxi conductivo de plata H20E Epo-Tek® de 28.35 gramos, ideal para aplicaciones en microelectrónica y optoelectrónica. Alta conductividad térmica y eléctrica.
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
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Sputter Coater MCM-100 All In One: metalizador pulverización catódica
MCM-100 “All in One” es un equipo compacto para preparación de muestras SEM, que permite recubrimientos rápidos con oro o platino en menos de tres minutos.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
