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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Rejillas TEM con película de soporte Formvar – Carbon o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids
Rejillas TEM más gruesas y rígidas que las tradicionales, facilitando su manipulación sin riesgo de doblarse. Disponibles en varios estilos y materiales, son ideales para diversas aplicaciones en microscopía electrónica. Vienen marcadas en el centro y dispone de una pestaña para sujetarlas con la pinza.
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Rejillas TEM de la gama Athene made by Agar Scientific en UK
La gama Athene (Athene TEM grids) son rejillas de muy de alta calidad para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas y comercializadas por Agar Scientific (Inglaterra).
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Rollo cinta conductiva Poly-carbonate Conductive Tape PELCO
Cinta adhesiva conductiva de doble cara con base de policarbonato y adhesivo acrílico cargado con carbono. Ideal para montaje de muestras en microscopía electrónica. Disponible en varios anchos y formatos.
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Silver Conductive Epoxy, H20E Epo-Tek®, 28.35G (1 Oz.)
Epoxi conductivo de plata H20E Epo-Tek® de 28.35 gramos, ideal para aplicaciones en microelectrónica y optoelectrónica. Alta conductividad térmica y eléctrica.
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Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
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Viales Wheaton vidrio borosilicato – tapón de rosca y liner de goma
Viales transparentes fabricados en vidrio Wheaton 33® de baja extracción, con tapón fenólico negro y liner de goma blanca. Ideales para almacenamiento de muestras sensibles en laboratorio, incluso a -40 °C. -
Wafers de silicio de alta pureza – varios diámetros y formatos
Wafers de silicio de alta pureza disponibles en varios diámetros, ideales para investigación en películas delgadas, semiconductores y aplicaciones avanzadas. Disponibles en versiones estándar y ultra-planas, con o sin recubrimientos.
