Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids

Estas rejillas TEM reforzadas están diseñadas para ofrecer una mayor rigidez mecánica y resistencia estructural en comparación con las rejillas tradicionales, lo que facilita significativamente su manipulación durante el trabajo en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Gracias a su mayor grosor y robustez, se reduce el riesgo de deformaciones accidentales, como dobleces o torsiones, durante el montaje, transporte o inserción en el portamuestras.

Están disponibles en una amplia variedad de materiales (como cobre, níquel o oro) y configuraciones de malla, lo que las hace adecuadas para múltiples aplicaciones, desde estudios de materiales hasta biología estructural. Su diseño incluye una marca central de referencia, que permite una orientación precisa bajo el microscopio, y una pestaña lateral que facilita su sujeción con pinzas sin comprometer la integridad de la rejilla ni contaminar la zona de análisis. Estas características las convierten en una opción ideal para usuarios que requieren una manipulación más segura y precisa, especialmente en entornos donde la repetibilidad y la integridad de la muestra son críticas.