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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
Miniatura | SKU | Referencia | Tipo calibración | Contenido | Existencias | Precio | Cantidad | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | 659-6 | PELCO® XCS-6 | EDS | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-7 | PELCO® XCS-7 | BSD y software GSR | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-22 | PELCO® XCS-22 | BSD Oxford | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-8 | PELCO® XCS-8 | EDS elementos ligeros | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-12 | PELCO® XCS-12 | EDS | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-CL | PELCO® XCS-CL | Catodoluminiscencia | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-R | PELCO® XCS-R | Raman | Unidad | Bajo pedido | |||
![]() | 659-5 | PELCO® XCS-5 | EDS | Unidad | Bajo pedido |
Descripción
Los estándares de calibración PELCO® XCS para EDS son muestras prácticas y compactas, diseñadas para facilitar la calibración y verificación del rendimiento de sistemas de espectroscopía de dispersión de energía (EDS). Están incrustados en resina transparente sobre un pin de 12,7 mm de diámetro, pulidos con acabado fino y recubiertos con carbono para asegurar conductividad superficial.
Cada estándar está optimizado para diferentes necesidades: desde calibraciones generales hasta pruebas específicas como detección de elementos ligeros, respuesta de detectores de electrones retrodispersados (BSD), deconvolución de picos, y más. También se incluyen referencias para espectroscopía Raman y calibración de software de residuos de disparo (GSR).
Especificaciones técnicas
PELCO® XCS-5
- Calibración esencial para sistemas EDS.
- Incluye rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al y copa de Faraday.
- Montado en pin de aluminio de 12,7 mm.
Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, B, C, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-6
- Similar al XCS-5 pero con rejilla de cobre de 200 mesh (127 µm).
- Rejilla sirve como referencia Cu/Al y de tamaño.
- Montado en pin de aluminio de 12,7 mm.
Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, B, C, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-7
- Calibración de curva de respuesta BSD.
- Útil para ajuste de software GSR.
- Incluye rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
Contenido: Ge, Nb, Au, C, Si, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-22
- Calibración BSD para sistemas Oxford Instruments.
- Incluye muestra de cobalto estándar.
- Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
Contenido: Ge, Rh, Au, C, Si, Co, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-8
- Variante del XCS-5 con línea de nitrógeno (BN).
- Para calibración EDS con elementos ligeros.
- Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, BN, C, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-10
- Calibración avanzada BSD (solo venta en EE.UU.).
- Amplia gama de elementos distribuidos en la tabla periódica.
- Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
Contenido: C, Si, Ti, Co, Ge, Nb, Sn, Ho, Ir, Bi, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-12
- Optimizado para detección de elementos ligeros.
- Ideal para verificar rendimiento en análisis EDS.
- Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
Contenido: CaB₆, SiC, CrN, Fe₂O₃, CaF₂, Cu (rejilla)
PELCO® XCS-CL
- Referencia para catodoluminiscencia.
- Contiene minerales fluorescentes.
- Montado en pin de 12,7 mm.
Contenido: Benitoita, Apatita, Spinel, Corindón, Crisoberilo, Fluorita, Calcita
PELCO® XCS-PD
- Referencia para deconvolución de picos EDS.
- Útil para probar algoritmos de auto-deconvolución.
- Montado en pin de 12,7 mm.
Contenido: Zinkenita, Galena, Enargita, Molybdenita, Wulfenita, Tetrahedrita, Bornita, Covellina, Calcopirita, Pirita, Marcasita
PELCO® XCS-R
- Referencia para espectroscopía Raman.
- Ideal para microscopios Raman y SEM con Raman.
- Recubierto con carbono para conductividad.
Contenido: Sílice, Cuarzo, Calcedonia, Aragonita, Calcita, Pirita, Marcasita, Rutilo, Anatasa, Brookita