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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm

Bajo pedido

Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.

Precio

MiniaturaSKUReferenciaTipo calibraciónContenidoExistenciasPrecioCantidad 
659-6PELCO® XCS-6EDSUnidad

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659-7PELCO® XCS-7BSD y software GSRUnidad

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659-22PELCO® XCS-22BSD OxfordUnidad

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659-8PELCO® XCS-8EDS elementos ligerosUnidad

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659-12PELCO® XCS-12EDSUnidad

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659-CLPELCO® XCS-CLCatodoluminiscenciaUnidad

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659-RPELCO® XCS-RRamanUnidad

Bajo pedido

659-5PELCO® XCS-5EDSUnidad

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Descripción

Los estándares de calibración PELCO® XCS para EDS son muestras prácticas y compactas, diseñadas para facilitar la calibración y verificación del rendimiento de sistemas de espectroscopía de dispersión de energía (EDS). Están incrustados en resina transparente sobre un pin de 12,7 mm de diámetro, pulidos con acabado fino y recubiertos con carbono para asegurar conductividad superficial.

Cada estándar está optimizado para diferentes necesidades: desde calibraciones generales hasta pruebas específicas como detección de elementos ligeros, respuesta de detectores de electrones retrodispersados (BSD), deconvolución de picos, y más. También se incluyen referencias para espectroscopía Raman y calibración de software de residuos de disparo (GSR).

Especificaciones técnicas

PELCO® XCS-5

  • Calibración esencial para sistemas EDS.
  • Incluye rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al y copa de Faraday.
  • Montado en pin de aluminio de 12,7 mm.
    Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, B, C, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-6

  • Similar al XCS-5 pero con rejilla de cobre de 200 mesh (127 µm).
  • Rejilla sirve como referencia Cu/Al y de tamaño.
  • Montado en pin de aluminio de 12,7 mm.
    Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, B, C, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-7

  • Calibración de curva de respuesta BSD.
  • Útil para ajuste de software GSR.
  • Incluye rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
    Contenido: Ge, Nb, Au, C, Si, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-22

  • Calibración BSD para sistemas Oxford Instruments.
  • Incluye muestra de cobalto estándar.
  • Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
    Contenido: Ge, Rh, Au, C, Si, Co, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-8

  • Variante del XCS-5 con línea de nitrógeno (BN).
  • Para calibración EDS con elementos ligeros.
  • Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
    Contenido: AISI 316L, SiO₂, Mn, BN, C, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-10 

  • Calibración avanzada BSD (solo venta en EE.UU.).
  • Amplia gama de elementos distribuidos en la tabla periódica.
  • Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
    Contenido: C, Si, Ti, Co, Ge, Nb, Sn, Ho, Ir, Bi, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-12

  • Optimizado para detección de elementos ligeros.
  • Ideal para verificar rendimiento en análisis EDS.
  • Rejilla de cobre de 200 µm como referencia Cu/Al.
    Contenido: CaB₆, SiC, CrN, Fe₂O₃, CaF₂, Cu (rejilla)

PELCO® XCS-CL

  • Referencia para catodoluminiscencia.
  • Contiene minerales fluorescentes.
  • Montado en pin de 12,7 mm.
    Contenido: Benitoita, Apatita, Spinel, Corindón, Crisoberilo, Fluorita, Calcita

PELCO® XCS-PD

  • Referencia para deconvolución de picos EDS.
  • Útil para probar algoritmos de auto-deconvolución.
  • Montado en pin de 12,7 mm.
    Contenido: Zinkenita, Galena, Enargita, Molybdenita, Wulfenita, Tetrahedrita, Bornita, Covellina, Calcopirita, Pirita, Marcasita

PELCO® XCS-R

  • Referencia para espectroscopía Raman.
  • Ideal para microscopios Raman y SEM con Raman.
  • Recubierto con carbono para conductividad.
    Contenido: Sílice, Cuarzo, Calcedonia, Aragonita, Calcita, Pirita, Marcasita, Rutilo, Anatasa, Brookita

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