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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
| Miniatura | SKU | Diámetro | Altura pin | Contenido | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 16119 | 18 mm | 8 mm | 10 unidades | Bajo pedido | |||
 | 16119-9 | 18 mm | 6 mm | 10 unidades | 1 disponibles | |||
| 16119-9(50) | 18 mm | 6 mm | 50 unidades | Bajo pedido |
Descripción
Estos pin stubs de 18 mm de diámetro son soportes esenciales para la correcta colocación y estabilidad de muestras en técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM), FE-SEM y FIB-SEM. Están diseñados específicamente para ser compatibles con todos los equipos Zeiss/LEO, garantizando un ajuste perfecto y un rendimiento óptimo durante el análisis.
Fabricados en aluminio de alta calidad, estos monta muestras ofrecen una excelente conductividad térmica y eléctrica, lo que los hace ideales para aplicaciones de microscopía de alta resolución. Están disponibles en dos alturas de pin: 8 mm y 6 mm, lo que permite adaptarse a diferentes configuraciones de cámara y porta muestras.
El diseño con borde ranurado facilita la manipulación y el montaje, incluso con guantes o herramientas de laboratorio. Se ofrecen en diferentes cantidades por bolsa, según las necesidades del laboratorio o del proyecto.
Especificaciones técnicas
- Compatibilidad: Equipos SEM, FE-SEM y FIB-SEM de Zeiss/LEO
- Material: Aluminio con borde ranurado
- Diámetro: 18 mm
- Altura del pin: Disponible en 6 mm y 8 mm
- Cantidad por bolsa: Variable de 10 a 100 uds.
- Aplicación: Estabilidad y precisión en microscopía electrónica
