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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
| Miniatura | SKU | Diámetro | Altura pin | Contenido | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 16354 | 25mm | 8 mm | Unidad | Bajo pedido | |||
 | 16354-9 | 25mm | 6 mm | Unidad | 1 disponibles |
Descripción
Esta montura doble de 90º para SEM (Scanning Electron Microscope) con diámetro de 25 mm está diseñada para ofrecer una solución robusta, precisa y versátil en la colocación de muestras durante el análisis por microscopía electrónica de barrido. Esta montura permite posicionar dos muestras en ángulo recto (90º), lo que facilita el análisis simultáneo o comparativo desde diferentes orientaciones, optimizando el tiempo de trabajo y la eficiencia del análisis.
Fabricada en aluminio mecanizado de alta calidad, esta montura garantiza una excelente conductividad, resistencia mecánica y durabilidad. Su borde ranurado facilita la manipulación con guantes o herramientas de laboratorio, y su diseño compacto permite una integración perfecta en cámaras de vacío de distintos modelos de microscopios.
Está disponible en dos versiones según la altura del pin:
- Pin de 9,5 mm, compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, así como con modelos antiguos de Philips, LEO, Cambridge, AMRAY, Leica, CamScan y ETEC.
- Pin corto de 6 mm, especialmente diseñado para sistemas ZEISS/LEO.
Ambas versiones ofrecen una sujeción firme y estable, asegurando que las muestras permanezcan en la posición deseada durante todo el proceso de análisis. Esta montura es ideal para laboratorios que requieren precisión, repetibilidad y compatibilidad con múltiples plataformas SEM.
Especificaciones técnicas
- Tipo de producto: Montura doble de 90º para microscopía electrónica de barrido (SEM)
- Diámetro: 25 mm
- Material: Aluminio con borde ranurado
- Altura del pin:
- 9,5 mm (compatible con FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, LEO, Cambridge, AMRAY, Leica, CamScan, ETEC)
- 6 mm (especial para ZEISS/LEO)
- Compatibilidad: Amplia gama de sistemas SEM antiguos y modernos
- Aplicación: Sujeción de doble muestra en ángulo recto para análisis simultáneo
- Ventajas: Alta estabilidad, precisión en el posicionamiento, reutilizable y duradero
