Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono

Esta muestra de resolución universal está diseñada para microscopía electrónica de barrido (SEM). Contiene esferas de estaño en un rango de tamaño de <5 nm a 30 µm, proporcionando un alto contraste en las imágenes. Es ideal para la alineación de columnas a baja magnificación, corrección de astigmatismo y verificación de resolución a altas magnificaciones. Esta muestra es esencial para asegurar la precisión y calidad en los análisis realizados con microscopios SEM.