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Montamuestras – Pin stubs Hitachi Ø25mm M4 (pack 50)
Compatibles con instrumentación Hitachi. Aluminio. Diámetro de 25mm y altura de 6mm.
Descripción
Estos stubs de muestras para SEM están diseñados específicamente para microscopios Hitachi. Fabricados en aluminio, tienen un diámetro de 25mm y una altura de 6mm, con rosca de tipo M4. Ideales para la preparación y análisis de muestras en microscopía electrónica de barrido, garantizan una sujeción segura y estable durante el proceso de observación. Cada paquete incluye 50 unidades.
