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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
Descripción
Estas rejillas están especialmente diseñadas para colocarse sobre pin stubs (monta muestras) utilizados en microscopios electrónicos de barrido (SEM), facilitando una preparación rápida y precisa de las muestras. Su función principal es ayudar a los investigadores a identificar con exactitud las áreas de interés que serán objeto de análisis detallados. Gracias a su diseño y características, resultan particularmente valiosas en estudios de partículas como el polen, así como en experimentos de conteo de partículas ambientales, donde la localización precisa y la repetibilidad son fundamentales para obtener resultados fiables.
Especificaciones técnicas
- Aplicación:
- Colocación sobre pin stub o montamuestras para microscopía electrónica de barrido (SEM).
- Uso:
- Identificación de áreas de interés para análisis.
- Valor añadido:
- Especialmente útiles para:
- Análisis de partículas como polen.
- Experimentos de conteo de partículas ambientales.
- Especialmente útiles para:
- Grosor:
- Solo 20 µm.
- Protección:
- Hoja de revestimiento transparente en un lado.
- Cubierta de revestimiento blanco en el otro.