EBSD monta muestras Hitachi 70º Ø15×12 mm rosca M4 sin pin

El soporte de muestra de aluminio pre-inclinado a 70° está diseñado específicamente para facilitar el análisis de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) en microscopios electrónicos de barrido (SEM), especialmente en modelos de la marca Hitachi. Gracias a su inclinación fija, este soporte permite posicionar la muestra directamente en el ángulo óptimo para el detector EBSD, eliminando la necesidad de inclinar la etapa del microscopio, lo que reduce el desplazamiento y mejora la estabilidad durante el análisis.

Sus dimensiones físicas incluyen un diámetro de 15 mm y una altura de 12 mm, lo que proporciona una base compacta pero robusta para la colocación de muestras pequeñas. El material de fabricación, aluminio, ha sido seleccionado por su resistencia mecánica, ligereza y baja interferencia con los haces de electrones, lo que garantiza resultados precisos y reproducibles.

Ventajas

• Estabilidad mejorada:
  La inclinación predefinida de 70° garantiza una orientación óptima de la muestra hacia el detector EBSD, lo que permite obtener datos más precisos y reproducibles sin necesidad de ajustar manualmente la etapa del microscopio.
• Material de alta calidad:
  Fabricado en aluminio, este soporte ofrece una excelente durabilidad y resistencia mecánica, sin interferir con el análisis electrónico. Su ligereza también facilita la manipulación y el montaje en sistemas SEM.
• Compatibilidad versátil:
  El diseño con rosca M4 permite su uso en una amplia gama de microscopios SEM, incluyendo modelos de Hitachi y otros que aceptan este tipo de montaje. Además, puede integrarse con adaptadores y extensiones de etapa para ajustar la distancia de trabajo según las necesidades del sistema.