Ted Pella
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Silver Conductive Epoxy, H20E Epo-Tek®, 28.35G (1 Oz.)
Epoxi conductivo de plata H20E Epo-Tek® de 28.35 gramos, ideal para aplicaciones en microelectrónica y optoelectrónica. Alta conductividad térmica y eléctrica.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
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Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
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Pelco Precision Low Speed Saw – sierra para muestras biológicas
Sistema de corte de precisión diseñado para seccionar muestras delicadas sin alterar su estructura. Ideal para laboratorios de microscopía, histología y análisis de materiales. Compatible con una amplia gama de discos y accesorios, es una solución versátil para preparación de muestras en investigación científica.
