Ted Pella
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
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Hexametildisilazano (HMDS) frasco 250 ml – Grado EM
Utilizado principalmente en la preparación de tejidos para microscopía electrónica de barrido (SEM) y en la síntesis orgánica y química organometálica.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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AFM Probes Tap300-G – Sondas modo Tapping marca BudgetSensors
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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Desecador al vacío para rejillas TEM “Pelco Grid Vacuum Desiccator”
Mantén tus muestras para TEM libres de contaminación y oxígeno con este desecador al vacío. Ideal para almacenar y transportar hasta 50 rejillas TEM de manera segura, con capacidad de bombeo hasta 10^-3 mbar.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Silver Conductive Epoxy, H20E Epo-Tek®, 28.35G (1 Oz.)
Epoxi conductivo de plata H20E Epo-Tek® de 28.35 gramos, ideal para aplicaciones en microelectrónica y optoelectrónica. Alta conductividad térmica y eléctrica.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
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Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
