Ted Pella
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- “Bulk Specimen Holder - sujeta-muestras irregulares ⌀32 mm” already exists in your wishlist
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Abrazadera NWKF con tuerca tipo mariposa para bombas de vacío
Abrazadera tipo Wing Nuts Clamp standard más popular y económica. Varios tamaños.
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Heavy Crossover – Pinzas reversas (autocierre) para muestras pesadas
Estas pinzas reversas (self-closing) ideales para preparaciones metalúrgicas y aplicaciones similares, proporcionando un agarre muy firme.
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Pinzas Pelco® Pro – No conductoras con puntas reemplazables de PEEK
Pinzas de precisión ESD-safe con puntas reemplazables en material PEEK, ideales para manipular materiales frágiles y componentes electrónicos. Fabricadas en acero inoxidable no magnético, resistentes a químicos y altas temperaturas.
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Pinzas Pelco® Pro Wafer – NO conductoras PDVF para obleas silicio
Pinzas ideales para manipular componentes sensibles en microscopía electrónica como sustratos y obleas ultrafinas de silicio.
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Wafers de silicio de alta pureza – varios diámetros y formatos
Wafers de silicio de alta pureza disponibles en varios diámetros, ideales para investigación en películas delgadas, semiconductores y aplicaciones avanzadas. Disponibles en versiones estándar y ultra-planas, con o sin recubrimientos.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Pinzas punta tenacillas 45º para sujetar pin stubs de Ø 32 mm
Pinzas inclinadas 45º para agarre de pin stubs de 32 mm de diámetro.
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Pinzas laboratorio agarre tenacillas para sujetar pin stubs de Ø 25 mm
Pinzas para agarre de pins de 25mm de diámetro
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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8 / 6mm alto – Compatibles mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.