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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Filamentos de tungsteno Cambridge, LEO, Zeiss y AEI (caja de 10)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Cambridge, LEO, Zeiss y AEI, caja de 10 unidades.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Montamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8 / 6mm alto – Compatibles mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Lowprofile 45/90º SEM Mount – montamuestras de aluminio
Montamuestras inclinado 45/90º aluminio
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Adaptador de Pin Stub para microscopios Hitachi – M4 15×10 mm
Adaptador de pin stubs tamaño 15 x 10 mm con rosca M4 en un lado.
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Pin stub montamuestras con sujeción micro-vise 1/8″ (3,2 mm)
Micro tornillo de banco compatible con soporte de pin stub.
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Bulk Specimen Holder – sujeta-muestras irregulares ⌀32 mm
Montamuestras diseñado para sujetar de manera segura fragmentos grandes o de formas irregulares o incómodas para su análisis en el microscopio electrónico de barrido (SEM).
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.