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Kit laboratorio forense residuos de disparo (GSR) para análisis SEM
Fabricante:Ted PellaKit forense para recolección de residuos de disparo (GSR) con pin stub SEM, carbon tab específica y almacenaje en tubos de vidrio. Disponible en versión estándar, para ZEISS/LEO o sin pin stubs.
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Lowprofile 45/90º SEM Mount – montamuestras de aluminio
Fabricante:Ted PellaMontamuestras inclinado 45/90º aluminio
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Monta muestras Pin Stub con número de serie grabado – ⌀12,5 mm
Fabricante:AgarPorta muestras serializados para SEM (paquete de 50 unidades grabadas con máximo 8 dígitos) – ⌀12,5 mm.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Fabricante:Ted PellaEspecimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Pestañas conductivas carbono Pelco Carbon Conductive doble cara
Fabricante:Ted PellaLas PELCO Tabs™ consisten en una oblea de fibra de carbono impregnada con adhesivo acrílico que contiene carbono. No tienen película interna.
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Pestañas conductivas carbono PELCO™ Image Tabs 260 µm doble cara
Fabricante:Ted PellaPestañas adhesivas conductivas PELCO Image Tabs™ de 260 µm, ideales como fondo fotográfico en SEM. Doble cara, reposicionables y con excelente estabilidad bajo recubrimiento metálico.
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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm
Fabricante:Ted PellaMontura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
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Pin stub montamuestras con sujeción micro-vise 1/8″ (3,2 mm)
Fabricante:Ted PellaMicro tornillo de banco compatible con soporte de pin stub.
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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Fabricante:Ted PellaMontamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Fabricante:AgarMontamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8 / 6mm alto – Compatibles mayoría microscopios
Fabricante:Ted PellaMontamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Planotec P47 – Disco de centelleo Ø8.8 x 2 mm sin recubrir
Fabricante:Ted PellaProporciona una alta señal de salida y una excelente vida útil en SEM. Compatible con JEOL JSM T20, T200, T300, 35CF, 800 series