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Adaptador de Pin Stub para microscopios Hitachi – M4 15×10 mm
Adaptador de pin stubs tamaño 15 x 10 mm con rosca M4 en un lado.
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Adaptador de pin stubs para microscopios JEOL – cilindro Ø 12.2 mm
Adaptador de montaje de pin para cilindro JEOL de 12.2 mm. Permite usar montajes de pin estándar en microscopios JEOL
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AGAR Leit Carbon Tabs – pestañas adhesivas conductoras varios Ø
Pegatinas adhesivas de carbono Leit Carbon tabs, ligeramente de mayor grosor que las pestañas carbon tab standard. Conductividad eléctrica ideal para análisis SEM.
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Bulk Specimen Holder – sujeta-muestras irregulares ⌀32 mm
Montamuestras diseñado para sujetar de manera segura fragmentos grandes o de formas irregulares o incómodas para su análisis en el microscopio electrónico de barrido (SEM).
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Cinta conductiva “Carbon Conductive Tape” PELCO en formato rollo
Base de policarbonato y adhesivo acrílico relleno de carbono, es ideal para SEM y EDS, ofreciendo alta conductividad y fijación segura de muestras.
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Cinta conductiva Aluminio Conductive Tape PELCO – 3M™
Aluminio. ideal para aplicaciones de microscopía electrónica de barrido (SEM) y espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (EDS)
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Cinta conductiva de cobre “Conductive Tape 3M™” en rollo
La cinta conductiva de cobre 3M™ ofrece excelente conductividad, es de cobre blando con adhesivo conductivo muy fácil de cortar.
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Discos conductivos de carbono formato rollo – Ø12.5mm x 250
Tabs adhesivos de carbono conductivo de Ø12.5mm en formato rollo para SEM (250 uds por rollo). Alta transparencia para EDS y baja presencia de níquel y cobre.
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Filamentos de tungsteno Cambridge, LEO, Zeiss y AEI (caja de 10)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Cambridge, LEO, Zeiss y AEI, caja de 10 unidades.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
