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AFM Probes Tap300-G – Sondas modo Tapping marca BudgetSensors
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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Crisoles cilíndricos de alúmina Al₂O₃ varios tamaños 0.1-3.000 ml
Crisoles de alta puereza con forma cilíndrica, disponibles en capacidades desde 0.1 ml hasta 3.000 ml. Ideales para aplicaciones de laboratorio, análisis térmico y procesos de fusión a alta temperatura.
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Discos de Mica V1 máx. calidad – AFM V1 Mica discs Ø10mm – pack 10
Discos de mica de grado más alto V1 de 10mm de diámetro, paquete de 10 unidades. Aplicaciones en microscopía (por ej. AFM).
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Discos y láminas de Mica V1 – Nano Tec Mica discs en pack de 10
Discos y láminas de mica muscovita de alta pureza para microscopía electrónica, AFM y recubrimientos finos.
Superficies atómicamente planas tras exfoliación.
Alta estabilidad térmica y química, ideales como sustrato técnico. -
Láminas de Mica de máxima calidad – Mica Sheets V1 para AFM
Las láminas “Mica Sheets” calidad V1 son ideales para aplicaciones de microscopía y preparación de muestras, ofreciendo superficies limpias y planas. Espesor de 0.15 a 0.177mm (0.006 – 0.007″)
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Oblea de silicio Ø4″ cortada en chips de 5 x 5 mm, 270 chips/oblea
Obleas / waffers de silicio de 4″ (10 cm) de diámetro, cortadas en dados de 5 x 5 mm, proporcionando 270 chips o dados por oblea. Aplicaciones como sustrato en micrsocopía avanzada (AFM y SEM).
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Oblea de silicio Ø2″ (diámetro 5 cm) rerecubierta de oro
Wafer u oblea recubierta de una capa de oro de 50nm sobre silicio tipo P <111> de 500µm. Ideal para aplicaciones en nanotecnología y biotecnología.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Wafers de silicio de alta pureza – varios diámetros y formatos
Wafers de silicio de alta pureza disponibles en varios diámetros, ideales para investigación en películas delgadas, semiconductores y aplicaciones avanzadas. Disponibles en versiones estándar y ultra-planas, con o sin recubrimientos.
